供应半导体X射线膜厚测试仪_供应产品_金霖电子（香港）有限公司

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产品：	浏览次数：237供应半导体X射线膜厚测试仪
品牌：	美国博曼
单价：	面议
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发货期限：	自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至：	长期有效
最后更新：	2013-12-23 15:01

线路板博曼膜厚测试仪主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.博曼膜厚测试仪高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等

美国博曼（BOWMAN)膜厚测试仪测量电镀、PCB等各种金属镀层的厚度，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用，高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：

单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。

双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

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